オージェ電子分光分析装置(AES)
試料表面に電子線を照射すると極表層に存在する元素に固有のオージェ電子が放出されます。このエネルギーのスペクトルを測定して元素分析を行います。スパッタリングにより、深さ方法の元素濃度変化もわかります。
装置外観
アルバックファイ社製 PHI700Xi
- オージェ電子分光分析装置
- 原理
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試料表面に電子線を照射、試料より元素に固有の電子の放出(オージェ電子)がある。
この電子のエネルギーは元素固有の運動エネルギーを持つため、このエネルギーのスペクトルを測定し、元素分析を行う。
- 用途
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(1) 極表層の元素情報の取り出し、表面分析
(2) 酸化膜、吸着ガス、汚染分析
(3) イオンでスパッタし、深さ分析も可能
- 装置仕様
- 装置名
- オージェ電子分光分析装置
- 分析径
- ≦8nm
- 分析深さ
- 2nm
- 検出元素
- 3Li〜92U
事例:
AES 面分析の活用事例~SUS630中の析出物 (ε Cu) の観察~
凹凸物質測定