オージェ電子分光分析装置(AES)



 試料表面に電子線を照射すると極表層に存在する元素に固有のオージェ電子が放出されます。このエネルギーのスペクトルを測定して元素分析を行います。スパッタリングにより、深さ方法の元素濃度変化もわかります。

装置外観
VG-310F
アルバックファイ社製 PHI700Xi
オージェ電子分光分析装置
原理
 試料表面に電子線を照射、試料より元素に固有の電子の放出(オージェ電子)がある。
 この電子のエネルギーは元素固有の運動エネルギーを持つため、このエネルギーのスペクトルを測定し、元素分析を行う。

用途
 (1) 極表層の元素情報の取り出し、表面分析
 (2) 酸化膜、吸着ガス、汚染分析
 (3) イオンでスパッタし、深さ分析も可能
装置仕様
装置名
オージェ電子分光分析装置
分析径
≦8nm
分析深さ
2nm
検出元素
3Li〜92U

事例:  
 AES 面分析の活用事例~SUS630中の析出物 (ε Cu) の観察~
 凹凸物質測定