X線回折装置(XRD)
一定の波長のX線を試料に照射すると、試料の原子や分子の配列状態によって特有の回折パターンの散乱が得られます。これを解析することにより、物質を同定します。結晶学的な研究にも利用されます。
装置外観
![Smart-Lab](img/03_09_setsubi.jpg)
リガク製 Smart-Lab
- 原理
- 一定の波長のX線を分析試料に照射すると物質の原子、
分子の配列状態によって散乱されるX線に特有の回折パターンが得られる。
このパターンの現れ方で物質の構成成分が見分けられる。
- 用途
-
(1) 無機物、有機物の同定
(2) 酸化物、窒化物の同定
(3) 金属材料の結晶学的研究
装置仕様
X線発生部
- 管電圧:40kV
- 管電流:135mA
- ターゲット:Co
- ゴニオメータ
- 2θ測定範囲:0〜155°
このパターンの現れ方で物質の構成成分が見分けられる。
(2) 酸化物、窒化物の同定
(3) 金属材料の結晶学的研究