物理測定(物理分析・解析)


 物理解析・分析

  材料の様々な表面や内部状態を電子線やX線などを活用し、解析や分析を行いお客様に情報を提供します。
  さらにお客様の解析要望に合わせ、各種解析の提案および考察にも対応します。
 〈対象材料〉
  ・金属,無機物,有機物
 〈実施事例〉
  ・材料破損時の破面解析(SEM)
  ・材料の元素マッピング,深さ方向分析(SEM,EPMA,オージェ)
  ・物質構造の定性(✕線回折)
  ・結晶方位の観察,マッピング(✕線回折,SEM-EBSD)
  ・金属材料の残留応力測定(ポータブル残留応力計)

分析内容

  図1 電子線を利用した材料の様々な解析や分析内容
〈保有分析技術及び保有設備一覧〉 設備 型式 メーカー 導入年 電子銃/管球 付属検出器 SEM JSM-6010PLUS/LA JEOL 2015年 熱電子型 EDX JSM-7800F JEOL 2014年 電解放出型 EDX, EBSD SU6600 日立 2009年 電解放出型 EDX JSM-F100 JEOL 2020年 電解放出型 EDX EPMA JXA-8230 JEOL 2012年 熱電子型 EDX, WDX JXA-iHP200F JEOL 2004年 電解放出型 WDX オージェ PHI700Xi アルバック 2012年 電解放出型 オージェ電子 X線回析 Smart-Lab リガク 2018年 Co管球 多次元検出器 残留応力 μ-X360n パルステック 2014年 Cr管球,V管球 cosα法