化学分析

 化学分析


・原子番号 1(H) から 92(U)までの元素について、主要成分領域から極微量不純物領域まで高い精度で分析
・対象材料は、鉄鋼、Ni合金、Co合金、Cu合金、Ti合金、AL合金 等の金属材料、耐火物、セラミックス
・現地での分析が必要な場合は、可搬式分析計による現地分析を実施

 湿式分析

  湿式化学分析法
  吸光光度計
  原子吸光光度計(フレーム式 )
  原子吸光光度計(フレームレス式 )
  プラズマ発光分光分析装置( ICP )

 機器分析

  分類、適用元素、試料形状 他
  炭素・硫黄分析装置
  酸素・窒素分析装置
  水素分析装置
  蛍光X線分析装置
  エネルギー分散型蛍光X線分析装置
  発光分光分析装置
  携帯型蛍光X線分析装置(NITON )

 分析範囲

  当社でよく分析する成分および範囲を表1に示します。その他の成分,および分析方法のご指定がある場合はお問い合わせください。


表1 代表的な分析成分および範囲 単位:%(質量分率)
元素
C
Si
Mn
P
S
Cu
Ni
Cr
Mo
鉄鋼*1
0.003~5.0
0.01~8.0
0.01~20.0
0.005~0.50
0.001~0.50
0.01~5.0
0.01~50
0.01~40
0.01~10.0
Ni合金
0.001~2.0
0.01~5.0
0.01~5.0
0.005~0.05
0.001~2.0
0.01~80
Bal
0.01~40
0.01~25.0
Ti合金
0.002~0.20
0.01~0.50
0.01~0.50
-
~0.30
0.01~0.50
0.01~20
0.01~10.0
0.01~10.0
元素
W
V
Co
Ti
Al
Nb
B
N
Fe
鉄鋼*1
0.10~20.0
0.01~5.0
0.01~20.0
0.001~5.0
0.005~5.0
0.01~5.0
0.001~0.020
0.001~0.50
Bal
Ni合金
0.10~10.0
0.01~5.0
0.01~40
0.01~5.0
0.01~5.0
0.01~5.0
0.0004~0.020
0.001~0.10
0.01~0.50
Ti合金
0.10~1.0
0.01~25.0
0.01~1.0
Bal
0.01~50
0.01~10.0
0.002~0.020
0.005~0.03
0.01~5.0
*1:鉄鋼のうち、表2に示す化学成分については,JIS評価法に準拠した JNLA登録(登録番号:050209JP 登録証)に 基づいた定量分析(JIS準拠)を受託できます。詳細はお問い合わせください。
表2 JNLA登録分析法 単位:%(質量分率)
元素
C
Si
Mn
P
S
Cu
Ni
Cr
Mo
定量範囲
0.005~4.7
0.01~1.0
0.01~20.0
0.005~0.50
0.0007~0.34
0.01~5.0
0.01~30.0
0.01~35.0
0.01~10.0
分析JIS規格
JIS G 1211-3
JIS G 1212
JIS G 1258-2
JIS G 1214
JIS G 1215-4
JIS G 1258-2
JIS G 1258-2
JIS G 1258-2
JIS G 1258-2
元素
W
V
Co
i
Al
Nb
B
N
Pb
定量範囲
0.10~10.0
0.01~5.0
0.01~20.0
0.001~3.0
0.004~1.5
0.01~5.0
0.0001~0.010
NA
NA
分析JIS規格
JIS G 1258-2
JIS G 1258-2
JIS G 1258-2
JIS G 1258-2
JIS G 1258-3
JIS G 1258-2
JIS G 1258-7
NA
NA
〈保有分析技術および保有設備一覧〉   分析方法区分 特徴 分析装置(メーカー) バルク分析 蛍光X線分析 ・SimultiX12(リガク) スパーク発光分光分析 スパーク放電で励起した原子またはイオンが基底状態に戻る際に放出する光の強さを測定します。 ・ARL4460(サーモ) ガス分析 炭素・硫黄分析 分析対象を炉内で燃焼させてCO,CO2,およびSO2ガスを発生させ,赤外線検出器でその量を測定します。 ・EMIA920V/FA(堀場)
・CS844(LECO)
・SC632(LECO)
酸素・窒素分析 ・EMGA930(堀場)
・TC-600(LECO)
水素分析 ・RHEN602(LECO) 湿式分析 重量分析 《電子天秤,他》 滴定分析 《ビュレット,他》 吸光光度分析 ・UV-2700(島津) 原子吸光分析 (フレーム式) ・iCE3000(サーモ)
・AA6800F(島津)
(フレームレス式) ・PinAAcle900Z(パーキン)
・他2台
ICP発光分光分析 高温のプラズマ中で励起した原子またはイオンが基底状態に戻る際に放出する光の強さを測定します。 ・ICPV-8000(島津)
・SPS3500DD(日立)
・他2台
イオンクロマト分析 ・ICS-1500(サーモ) 定性分析 携帯型X線分析 ・NITON(サーモ) 深さ方向分析 グロー放電発光分析 (GD-OES) ・GD-Profiler2(堀場)